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Oxide TFT 열처리 효과 

1. 소스드레인 전류가 높으면서 모듈레이션이 되지 않다가 열처리 후 오프 전류가 낮아지고 모듈레이션이 됨

2. 소스드레인 전류가 낮으면서 모듈레이션이 되지 않고 열처리 후 모듈레이션이 됨

3. 모듈레이션이 어느 정도 되며 열처리 후 특성이 더 좋아짐

 

 

 

 

 

 

3. 모듈레이션이 어느 정도 되며 열처리 후 특성이 더 좋아짐

 

 

 

 

Year Authors Title IGZO  
         
2011

Chaotung U. Taiwan

Chur-Shyang Fuh a, Simon Min Sze, Po-Tsun Liu, Li-Feng Teng, Yi-Teh Chou Role of environmental and annealing conditions on the passivation-free in-Ga–Zn–O TFT All shadow mask

IGZO condition

Thickness 50nm
In:Ga:Zn:O 1:1:1:4
Depo. Temp. DC sputt.

R.T.

Gas Ar
Pressure 3mTorr
Gate Insulator Thermal oxide 100nm
S/D ITO(50nm).

W/L=1200/200

 

2010

고려대 주병권

Hyeon-seok Bae, Jae-Hong Kwon, Seongpil Chang , Myung-Ho Chung, Tae-Yeon Oh, Jung-Ho Park a , Sang Yeol Lee, James Jungho Pak, Byeong-Kwon Ju The effect of annealing on amorphous indium gallium zinc oxide thin film transistors IGZO condition
Thickness 50nm
In:Ga:Zn:O  
Depo. Temp. RF magnetron Sputt.

R.T.

Gas -
Pressure 5mTorr
Gate Insulator Thermal oxide 100nm
S/D Ti(10nm)/Au(90nm)

e-baeam/evap.

R.T.

Lift-off